演講時間：107年 6月7日(星期四)下午14:30~16:00

地點：機電大樓演講廳(工EN 2028)

姓名：簡賸瑞 教授

服務單位：義守大學 材料科學與工程學系

主要學歷：國立交通大學 電子物理 博士

主要經歷：
義守大學 材料科學與工程學系 教授 2014.08.01-至今
義守大學 材料科學與工程學系 副教授 2011.02.01-2014.07.31
義守大學 材料科學與工程學系 助理教授 2007.08.01-2011.01.31
國立交通大學 電子物理研究所 特約博士後研究 2007.01.01-2007.07.31
國立交通大學 電子物理研究所 博士後研究 2006.09.01-2006.12.31

主要專長與研究領域：
材料微結構與力學特性分析 聚焦離子束/穿透式電子顯微鏡 半導體薄膜之物理特性研究
高溫合金材料之機械性質研究 高壓物理 分子動力學模擬

備註（特殊榮譽、會員、Editor等）：
Journal of Nanomaterials (2016 I.F.: 1.871) (2011.4.17 ~ 2015.1.13) (共處理56篇稿件)
Journal of Engineering (2012.7.10 ~ now)
Journal of Advances in Nanomaterials (2016.4.29 ~ now)
義守大學「99-106 年度補助大專校院獎勵特殊優秀人才措施」傑出研究表現。


演講題目：
Nanomechanical properties and deformation behaviors of semiconductor and thin films

演講摘要：
The nanomechanical deformation in semiconductor and thin films is an important area of both technological and fundamental interest in the fabrication of nanoscale devices. Nowadays, nanoindentation is widely used as a depth-sensing technique to measure the most fundamental mechanical properties such as hardness, elastic modulus and the plasticity behaviors of various nanostructured materials and thin films, due to its high sensitivity and excellent resolution. Herein, the nanomechanical deformation behaviors and mechanisms of single-crystal Si, GaN thin films and ZnO thin films are studied by a combination of nanoindentation and microscopy techniques, as well as the semiconductor micropillars.