• 演講主題: 計量光柵量測技術原理與發展
• 演講講者: 陳建文 正工程師
• 服務單位: 工業技術研究院量測技術發展中心
• 演講時間: 2020/10/22(四) 14:30-16:00
• 演講地點: 國研大樓(國IR3003)

主要學歷： 中山大學 機械與機電學系 碩士 (91年畢業)
主要經歷：
 工研院量測技術發展中心 正工程師/經理
 安德越科技股份有限公司
主要專長與研究領域：
專長：精密量測技術開發、智慧製造檢測技術、自動化及機械設計
研究領域：
位移感測技術開發、AOI檢測技術、線上檢測與誤差分離補正技術、產線智慧化檢測與回饋技術。

備註（特殊榮譽、會員、Editor等）：
工研院獲獎 - 創意獎、績效獎、成果貢獻獎、品質典範獎、產業化貢獻獎、推動台灣精密機械光學檢測新創事業獎

摘要：
柵式計量基礎是由物理的柵來做為計量的基準，如同目視游標卡尺，被測物長度實質上就是讀取相應的柵線數和不足柵距的小數誤差位置，用在光柵尺前者稱為光柵計數，後者稱為細分割。隨著自動化的發展，柵式計量被發展成轉為隨位置變化的週期訊號的量測方式，再透過計數訊號週期轉換成位置訊息，產生柵訊息的方式有多種物理訊號，例如，電感、容柵、磁柵與光柵等，光柵由於製作技術成熟，以及容易製作出穩定的訊號，感測原理及製作技術可製作相對小週期訊號，所以廣泛被應用，是所有柵式計量中使用最廣泛使用的技術。光柵是由許多週期性等間距之細密條紋所構成的光學元件，計量光柵量測技術則是應用光柵執行距離度量與精密定位的感測量化技術，在一百多年前，人們就開始使用光柵，主要包含長度(線性)及角度(旋轉)兩大物理量，光柵利用光學原理莫爾(moiré)條紋及繞射光學現象，將光柵尺度轉為電子訊號作為精密位移計量元件。本演講將介紹以光柵為主的計量量測技術，包含增量式與絕對式光柵計量技術，及光柵感測器的發展。